TE142測(cè)試卡提供紙張或紙板模式，如果需要也支持自粘箔。單個(gè)元素用于根據(jù)特定想法和需要組裝測(cè)試板或測(cè)試墻。自粘膠帶便于手工測(cè)試模式的一個(gè)簡單安裝。

為了評(píng)價(jià)膜的分辨能力，有必要首先來定義放大因子。TE142為測(cè)試圖案大小推薦因子數(shù)為100倍或159倍。根據(jù)薄膜格式（例如，S16：12.3x740mm）。然后測(cè)試圖案必須固定在這些限制內(nèi),可能結(jié)合其他測(cè)試模式(如行業(yè)星)。

測(cè)試模式顯示9個(gè)垂直和9個(gè)水平組線對(duì)，標(biāo)志為C到K。這些線對(duì)的灰度如下因素√2，即行數(shù)/毫米每兩級(jí)整加一倍。下面的值表示使用較少因素與對(duì)應(yīng)的線對(duì)：

TE142/2	Resolving power in line pairs/mm with factor
field	original	50x	100x	150x	200x
C	1.4	70	140	210	280
D	1.0	50	100	150	200
E	0.7	35	70	105	140
F	0.5	25	50	75	100
G	0.35	17.5	35	52.5	70
H	0.25	12.5	25	37.5	50
I	0.175	8.75	17.5	26.25	35
J	0.125	6.25	12.5	18.75	25
K	0.0875	4.375	8.75	13.125	17.5

TE142/1	Resolving power in line pairs/mm with factor
field	original	50x	100x	150x	200x
C	1.4	70	140	210	280
D	1.0	50	100	150	200
E	0.7	35	70	105	140
F	0.5	25	50	75	100
G	0.35	17.5	35	52.5	70
H	0.25	12.5	25	37.5	50
I	0.175	8.75	17.5	26.25	35
J	0.125	6.25	12.5	18.75	25
K	0.0875	4.375	8.75	13.125	17.5

TE142/3	Resolving power in line pairs/mm with factor
field	original	50x	100x	150x	200x
C	2.0	100	200	300	400
D	1.4	70	140	210	280
E	1.0	50	100	150	200
F	0.7	35	70	105	140
G	0.5	25	50	75	100
H	0.35	17.5	35	52.5	70
I	0.25	12.5	25	37.5	50
J	0.175	8.75	17.5	26.25	35
K	0.125	6.25	12.5	18.75	25