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混疊測試圖走樣畸變測試卡更新：2017-03-01 瀏覽：TE173專門用于測量走樣?；殳B效應是兩個位圖的波紋扭曲造成的干擾。 在線客服
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產(chǎn)品介紹
TE173專門用于測量走樣?；殳B效應是兩個位圖的波紋扭曲造成的干擾。獨立于類型的相機混疊效應會產(chǎn)生干擾的動機如位圖和電視行結構。眾所周知的百葉簾效果或紡織品條紋圖案。
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