分辨率測試卡定制廠家
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正弦西門子星更新：2012-12-15 瀏覽：對比雙曲鍥形位置變化不是很敏感。允許測量各個(gè)角度的高分辨率，包括垂直、水平、矢狀面和切向面。 在線客服
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產(chǎn)品介紹
允許從任何點(diǎn)在這個(gè)圓的周長上多個(gè)目標(biāo)的MTF測量樣品。
分辨率測量可以用Imatest的星圖模塊進(jìn)行。
不如Edge-SFR分析有些圖形理敏感。
可以改善一些測量重復(fù)性噪音。
比較低對比度垂直+水平傾斜的邊緣。
對比雙曲鍥形位置變化不是很敏感。
允許測量各個(gè)角度的高分辨率，包括垂直、水平、矢狀面和切向面。
自動檢測登記標(biāo)志圖案。
尺寸
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