我們知道在分辨率測(cè)試卡檢測(cè)中光源的KPI也是非常重要的檢測(cè)參數(shù)，正確有效的檢測(cè)需檢產(chǎn)品的各項(xiàng)參數(shù)之前一定要確定檢測(cè)環(huán)境的穩(wěn)定搭建。

介紹

在任何產(chǎn)品開發(fā)過(guò)程中，重要的是定義產(chǎn)品必須滿足的特定要求以確保高質(zhì)量。當(dāng)使用補(bǔ)光光源時(shí)，我們建議創(chuàng)建盡可能接近所需光譜的光源，然后根據(jù)特定參數(shù)定義要求。我們經(jīng)常被問(wèn)到哪個(gè)參數(shù)最能代表所生成的光譜，該光譜接近所需的光譜。

產(chǎn)生光源

以下示例圖演示了使用不同方法生成的相同光源。同樣重要的是要注意，即使參數(shù)更合適，也不一定意味著光譜會(huì)更精確地再現(xiàn)。

圖1顯示了用iQ-LED生成的標(biāo)準(zhǔn)光源A（光譜1）。同時(shí)，圖2描繪了使用通道滑塊手動(dòng)調(diào)整的頻譜（頻譜2）。光譜2顯示出標(biāo)準(zhǔn)光源A的形狀和N-IR含量有很大不同。結(jié)果，光譜1似乎是相機(jī)特性或校準(zhǔn)的更好選擇。

圖1：深紅線代表目標(biāo)光譜（標(biāo)準(zhǔn)光源A）。淺紅色線表示使用iQ-LED自動(dòng)生成的光譜（光譜1）。

 圖2：深紅線代表目標(biāo)光譜。淺紅色線表示手動(dòng)調(diào)整的頻譜（頻譜2）。

但是，如果比較光譜的CCT或x和y色度坐標(biāo)，則結(jié)果將有利于光譜2，如下表所示。

FIT參數(shù)可以更好地表示觀察到的行為。頻譜1的FIT為87,1，而頻譜2的FIT為30,2。

結(jié)果

這怎么可能？本質(zhì)上，CIE x和y色度坐標(biāo)和CCT可以通過(guò)具有一些只需要覆蓋顏色的顏色空間的窄帶光源來(lái)匹配。不幸的是，當(dāng)要?jiǎng)?chuàng)建大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)光源具有的準(zhǔn)確連續(xù)光譜時(shí)，此過(guò)程還不夠。

使用均方根（RMS）計(jì)算FIT，并以百分比表示。它比較每個(gè)測(cè)量波長(zhǎng)的生成光譜和目標(biāo)光譜，從而考慮了窄帶光源。由于這種特殊的特性，F(xiàn)IT參數(shù)也適用于我們的iQ-LED設(shè)備，以優(yōu)化生成的光譜。基于x和y色度坐標(biāo)生成光源不僅導(dǎo)致與這些參數(shù)的偏差較小，而且還導(dǎo)致光譜變化較大。

結(jié)論

在定義測(cè)試要求的參數(shù)之前，建議您檢查哪些參數(shù)真正重要并且可靠。盡管CCT以及x和y色度坐標(biāo)非常受科學(xué)家和工程師的青睞，但在定義參數(shù)時(shí)考慮FIT可能更有益。